说明:收录25万 73个行业的国家标准 支持批量下载
(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211109660.4 (22)申请日 2022.09.13 (71)申请人 郑州思昆生物工程有限公司 地址 450016 河南省郑州市自贸试验区郑 州片区(经开)经开第六大街 133号1号 厂房3号楼6层 (72)发明人 陈懂懂 王丹阳 袁静贤  (74)专利代理 机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 专利代理师 王洋 (51)Int.Cl. G06V 10/75(2022.01) G06V 10/74(2022.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/26(2022.01)G06T 7/62(2017.01) (54)发明名称 一种受干扰的测序图像的识别方法、 装置、 设备及介质 (57)摘要 本申请涉及缺陷图像检测技术领域, 公开了 一种受干扰的测序图像的识别方法、 装置、 设备 及介质, 该方法包括: 构建含有不同干扰因素的 模板库; 采集待识别荧光图像; 对待识别荧光图 像依次进行预处理、 形态学处理、 几何变换处理 和分割处理; 对分割处理后的图像进行轮廓的提 取和绘制, 得到干扰因素的轮廓; 将得到的轮廓 与模板库中模板图像上的轮廓进行匹配, 以识别 出受干扰图像。 这样在无人监督的情况下, 从轮 廓匹配的角度, 可以精确快速的识别出受到干扰 的荧光图像, 且能确定干扰因素, 具有很强的鲁 棒性, 节省时间成本和人力成本 。 权利要求书2页 说明书10页 附图6页 CN 115331034 A 2022.11.11 CN 115331034 A 1.一种受干扰的测序图像的识别方法, 其特 征在于, 包括: 构建含有不同干扰因素的模板库; 采集待识别荧 光图像; 对所述待识别荧 光图像依次进行 预处理、 形态学处 理、 几何变换处 理和分割处 理; 对分割处 理后的图像进行轮廓的提取和绘制, 得到 干扰因素的轮廓; 将得到的轮廓与所述模板库中模板图像上的轮廓进行匹配, 以识别出受干扰图像。 2.根据权利要求1所述的受干扰的测序图像的识别方法, 其特征在于, 构建含有不同干 扰因素的模板库, 包括: 收集高通 量测序试验产生的受干扰的荧 光图像; 基于收集的荧 光图像上的干扰因素, 得到受不同干扰的模板图像; 根据得到的所述模板图像, 构建含有不同干扰因素的模板库。 3.根据权利要求2所述的受干扰的测序图像的识别方法, 其特征在于, 对所述待识别荧 光图像进行 预处理, 包括: 对所述待识别荧 光图像进行增 加、 降噪、 拉伸、 裁 剪、 缩放。 4.根据权利要求3所述的受干扰的测序图像的识别方法, 其特征在于, 对所述待识别荧 光图像进行 形态学处 理、 几何变换处 理, 包括: 对预处理后的图像进行 形态学处 理, 提取干扰因素的边 缘, 形成边 缘梯度图像; 对所述边缘梯度图像进行几何变化处 理; 所述几何变换处 理包括反转、 裁 剪和旋转。 5.根据权利要求4所述的受干扰的测序图像的识别方法, 其特征在于, 对所述待识别荧 光图像进行分割处 理, 包括: 根据预先确定的最优分割阈值, 对几何处理后的图像进行分割处理, 分割出图像上的 干扰因素, 并将干扰因素的灰度值设置为255, 背景设置为0, 以使干扰因素清晰地显示在图 像上。 6.根据权利要求5所述的受干扰的测序图像的识别方法, 其特征在于, 对分割处理后的 图像进行轮廓的提取和绘制, 得到 干扰因素的轮廓, 包括: 利用边界跟踪算法提取分割处 理后的图像上的干扰因素的轮廓信息; 根据提取的轮廓信息, 绘制得到相应的轮廓。 7.根据权利要求6所述的受干扰的测序图像的识别方法, 其特征在于, 将得到的轮廓与 所述模板库中模板图像上的轮廓进行匹配, 以识别出受干扰图像, 包括: 对所述模板库中的模板图像进行轮廓的提取和绘制, 获取 所述模板图像上的轮廓; 将得到的干扰因素的轮廓和所述模板图像上的轮廓进行相似度匹配和面积对比; 判断相似度匹配和面积对比的结果是否满足阈值条件; 所述阈值条件包括预先确定的 最佳匹配阈值和最佳面积阈值; 若是, 则将所述待识别荧 光图像标记为受干扰图像; 若否, 则将所述待识别荧 光图像标记为 正常图像。 8.一种受干扰的测序图像的识别装置, 其特 征在于, 包括: 模板库构建模块, 用于构建含有不同干扰因素的模板库; 图像采集模块, 用于采集待识别荧 光图像; 图像处理模块, 用于对所述待识别荧光图像依次进行预处理、 形态学处理、 几何变换处权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115331034 A 2理和分割处 理; 还用于对分割处 理后的图像进行轮廓的提取和绘制, 得到 干扰因素的轮廓; 轮廓匹配模块, 用于将得到的轮廓与所述模板库中模板 图像上的轮廓进行匹配, 以识 别出受干扰图像。 9.一种电子设备, 其特征在于, 包括处理器和存储器, 其中, 所述处理器执行所述存储 器中存储的计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的受干扰的测序图像的识别方 法。 10.一种计算机可读存储介质, 其特征在于, 用于存储计算机程序, 其中, 所述计算机程 序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的受干扰的测序图像的识别方法。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115331034 A 3

PDF文档 专利 一种受干扰的测序图像的识别方法、装置、设备及介质

文档预览
中文文档 19 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共19页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
专利 一种受干扰的测序图像的识别方法、装置、设备及介质 第 1 页 专利 一种受干扰的测序图像的识别方法、装置、设备及介质 第 2 页 专利 一种受干扰的测序图像的识别方法、装置、设备及介质 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 SC 于 2024-02-18 22:30:52上传分享
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。