(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202211021383.1
(22)申请日 2022.08.24
(71)申请人 合肥的卢深视科技有限公司
地址 230091 安徽省合肥市高新区习友路
3333号中 国 (合肥) 国际智能语音产业
园研发中心 楼611-217室
(72)发明人 化雪诚 刘祺昌 李东洋 王海彬
户磊
(74)专利代理 机构 北京智晨知识产权代理有限
公司 11584
专利代理师 张婧
(51)Int.Cl.
G06V 10/26(2022.01)
G06V 10/74(2022.01)
(54)发明名称
DOE状态检测方法、 装置、 电子设备和存储介
质
(57)摘要
本申请实施例涉及机器视觉技术领域, 公开
了一种DOE状态检测方法、 装置、 电子设备和存储
介质, 该方法包括: 根据预设的GT散斑图中的各
级衍射区域对测试散斑图进行衍射级次分割, 确
定测试散斑图中的各级衍射区域, 测试散斑图是
基于目标投射模组得到的; 分别根据测试散斑图
中的各级衍射区域的亮度, 确定测试散斑图中的
各级衍射区域的衍射效率; 根据测试散斑图中的
各级衍射区域的衍射效率, 确定目标投射模组的
DOE的状态, 从而提升了DOE状态检测的效率, 降
低了投射模组的生产成本 。
权利要求书2页 说明书10页 附图5页
CN 115546477 A
2022.12.30
CN 115546477 A
1.一种DOE状态检测方法, 其特 征在于, 包括:
根据预设的GT散斑图中的各级衍射区域对测试散斑图进行衍射级次分割, 确定所述测
试散斑图中的各级衍 射区域; 其中, 所述测试散斑图是基于目标投射模组得到的;
分别根据 所述测试散斑图中的各级衍射区域的亮度, 确定所述测试散斑图中的各级衍
射区域的衍 射效率;
根据所述测试散斑图中的各级衍射 区域的衍射效率, 确定所述目标投射模组 的衍射光
学元件DOE的状态。
2.根据权利要求1所述的DOE状态检测方法, 其特征在于, 所述根据所述测试散斑 图中
的各级衍 射区域的衍 射效率, 确定所述目标投射模组的DOE的状态, 包括:
将所述测试散斑图中的零级衍射区域的衍射效率作为第 一检测值, 并将所述测试散斑
图中的除所述 零级衍射区域之外的各级衍 射区域的衍 射效率的均值作为第二检测值;
若所述第一检测值大于第一预设阈值, 且所述第二检测值小于第二预设阈值, 则确定
所述目标投射模组的DOE发生脱落; 其中, 所述第一预设阈值大于所述第二预设阈值。
3.根据权利要求2所述的DOE状态检测方法, 其特征在于, 在所述将所述测试散斑 图中
的零级衍射区域的衍射效率作为第一检测值, 并将所述测试散斑图中的除所述零级衍射区
域之外的各级衍 射区域的衍 射效率的均值作为第二检测值之后, 还 包括:
若所述第一检测值不大于所述第 一预设阈值, 或所述第 二检测值不小于所述第 二预设
阈值, 则计算所述第一检测值与所述第二检测值之间的差值 为第三检测值;
若所述第三检测值小于第 三预设阈值, 且所述第 一检测值和所述第 二检测值均小于第
四预设阈值, 则确定所述目标投射模组的DOE发生破裂; 其中, 所述第四预设阈值大于所述
第二预设阈值且小于所述第一预设阈值。
4.根据权利要求1至3 中任一项所述的DOE状态检测方法, 其特征在于, 所述分别根据所
述测试散斑图中的各级衍射区域的亮度, 确定所述测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效
率, 包括:
遍历所述测试散斑图中的各级衍射 区域, 计算所述测试散斑图中的当前级衍射 区域内
的各像素点的像素值之和为第一基准值, 并计算所述测试散斑图中的当前级衍射区域内的
各散斑内的各像素点的像素值之和为第二基准 值;
根据所述第 一基准值和所述第 二基准值, 计算所述测试散斑图中的当前级衍射 区域的
衍射效率。
5.根据权利要求4所述的DOE状态检测方法, 其特征在于, 通过以下公式, 根据 所述第一
基准值和所述第二基准 值, 计算所述测试散斑图中的当前级衍 射区域的衍 射效率:
其中, Sa为所述第一基准值, Sp为所述第二基准值, E为所述测试散斑图中的当前级衍射
区域的衍 射效率。
6.根据权利要求1至3 中任一项所述的DOE状态检测方法, 其特征在于, 所述根据预设的
GT散斑图中的各级衍射区域对测试散斑图进行衍射级次分割, 确定所述测试散斑图中的各
级衍射区域, 包括:
遍历所述GT散斑图中的各级衍射区域, 将所述GT散斑图中的当前级衍射区域的质心点权 利 要 求 书 1/2 页
2
CN 115546477 A
2作为第一目标点, 并在所述测试散斑图中确定与所述第一目标点 坐标相同的第二目标点;
根据预设的匹配算法和所述第 一目标点, 对以所述第 二目标点为中心的预设窗口内的
各像素点进行匹配, 将与所述第一目标点之间的匹配相似度最大的像素点作为所述第一目
标点的同名点;
根据各所述第 一目标点的坐标和各所述第一目标点的同名点的坐标, 确定所述GT散斑
图与所述测试散斑图之间的透 视矩阵;
根据所述GT散斑图中的各级衍射区域的边界点和所述透视矩阵, 在所述测试散斑图中
确定各所述边界点的同名点;
根据各所述边界点的同名点, 确定所述测试散斑图中的各级衍 射区域。
7.根据权利要求1至3 中任一项所述的DOE状态检测方法, 其特征在于, 所述根据预设的
GT散斑图中的各级衍射区域对测试散斑图进行衍射级次分割, 确定所述测试散斑图中的各
级衍射区域, 包括:
遍历所述GT散斑图中的各级衍射区域, 将所述GT散斑图中的当前级衍射区域的四个角
点和四个边的中点作为第三目标点, 并在所述测试散斑图中确定与所述第三目标点坐标相
同的第四目标点;
根据预设的匹配算法和所述第 三目标点, 对以所述第四目标点为中心的预设窗口内的
各像素点进行匹配, 将与所述第三目标点之间的匹配相似度最大的像素点作为所述第三目
标点的同名点;
根据各所述第 三目标点的同名点, 确定所述GT散斑图中的当前级衍射区域在所述测试
散斑图中对应的衍 射区域。
8.一种DOE状态检测装置, 其特 征在于, 包括:
获取模块, 用于基于目标投射模组得到测试散斑图;
衍射级次分割模块, 用于根据 预设的GT散斑图中的各级衍射区域对所述测试散斑图进
行衍射级次分割, 确定所述测试散斑图中的各级衍 射区域;
衍射效率计算模块, 用于分别根据所述测试散斑图中的各级衍射区域的亮度, 确定所
述测试散斑图中的各级衍 射区域的衍 射效率;
执行模块, 用于根据所述测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效率, 确定所述目标投
射模组的衍 射光学元件DOE的状态。
9.一种电子设备, 其特 征在于, 包括:
至少一个处 理器; 以及,
与所述至少一个处 理器通信连接的存 储器; 其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令, 所述指令被所述至少一个处
理器执行, 以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至7中任一所述的DOE状态检测
方法。
10.一种计算机可读存储介质, 存储有计算机程序, 其特征在于, 所述计算机程序被处
理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的DOE状态检测方法。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 DOE状态检测方法、装置、电子设备和存储介质
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