(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202211117294.7
(22)申请日 2022.09.14
(71)申请人 平凯星辰 (北京) 科技有限公司
地址 100192 北京市海淀区西小口路6 6号
中关村东升科技园 ·北领地C-1楼2层
207
(72)发明人 廖坚钧 栾成 刘奇 黄东旭
崔秋
(74)专利代理 机构 北京市立方律师事务所
11330
专利代理师 张筱宁
(51)Int.Cl.
G06F 11/10(2006.01)
G06F 16/22(2019.01)
G06F 16/27(2019.01)
(54)发明名称
一致性校验方法、 装置、 电子设备及存储介
质
(57)摘要
本申请实施例提供了一种一致性校验 方法、
装置、 电子设备及计算机可读存储介质, 涉及数
据库领域。 该方法包括: 对目标数据块进行检验
处理, 目标数据块在上、 下游数据库均包括至少
一行数据, 检验处理包括确定相应数据块在上、
下游数据库的校验和以及行数; 若确定目标数据
块的检验结果为异常, 则确定目标数据块的一致
性校验结果为不一致, 其中, 检验结果为异常用
于表征相应的数据块在上、 下游数据库的校验和
以及行数中的至少一种存在不同。 本申请实施例
效率具有明显的提升, 并且可更准确地确定目标
数据块的一 致性校验结果。
权利要求书2页 说明书9页 附图5页
CN 115421965 A
2022.12.02
CN 115421965 A
1.一种一 致性校验方法, 其特 征在于, 包括:
获得目标数据块, 对所述目标数据块进行检验处理, 所述目标数据块在上、 下游数据库
均包括至少一行数据, 所述检验处理包括确定相 应数据块在上、 下游数据库的校验和以及
行数;
若确定所述目标数据块的检验结果为异常, 则确定所述目标数据块的一致性校验结果
为不一致, 其中, 所述检验结果为异常用于表征相应的数据块在所述上、 下游数据库的校验
和以及行 数中的至少一种存在不同。
2.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述确定所述目标数据块的一致性校验结
果为不一致, 之后还 包括: 对所述目标 数据块进行迭代校验;
其中, 每一次迭代校验 包括:
确定当前迭代校验的参考数据块的行数, 首次迭代校验的参考数据块为所述目标数据
块;
若所述参考数据块的行数不大于行数阈值, 则对所述参考数据块在上、 下游数据库的
数据进行 逐行对比;
将不一致的行数据作为所述目标 数据块的异常行 数据。
3.根据权利要求2所述的方法, 其特征在于, 所述确定当前迭代校验的参考数据块的行
数, 之后还 包括:
若所述参考数据块的行数大于所述行数阈值, 则将所述参考数据块拆分为多个候选数
据块, 对所述 候选数据块进行 所述检验处 理;
若检验结果为异常的候选数据块的个数小于个数阈值, 则将检验结果为异常的候选数
据块作为下一次迭代校验的参 考数据块。
4.根据权利要求3所述的方法, 其特征在于, 所述对所述候选数据块进行所述检验处
理, 之后还 包括:
若检验结果为异常的候选数据块的个数不小于所述个数阈值, 则对所述候选数据块在
上、 下游数据库的数据进行 逐行对比;
将不一致的行数据作为所述目标 数据块的异常行 数据。
5.根据权利要求2所述的方法, 其特征在于, 所述确定当前迭代校验的参考数据块的行
数, 之后还 包括:
若所述参考数据块的行数大于行数阈值, 则将所述参考数据块拆分为多个候选数据
块, 对所述 候选数据块进行 所述检验处 理;
若检验结果为异常的候选数据块的行数小于所述行数阈值, 则对所述参考数据块在
上、 下游数据库的数据进行 逐行对比;
将不一致的行数据作为所述 候选数据块的异常行 数据。
6.根据权利要求5所述的方法, 其特征在于, 所述对所述候选数据块进行所述检验处
理, 之后还 包括:
若检验结果为异常的候选数据块的行数不小于行数阈值, 则将所述检验结果为异常的
候选数据块作为下一次迭代校验的参 考数据块。
7.根据权利要求3 ‑6任意一项所述的方法, 其特征在于, 所述对所述候选数据块进行所
述检验处 理, 包括:权 利 要 求 书 1/2 页
2
CN 115421965 A
2根据所述参考数据块的行数, 确定所述参考数据块的前半部分行数对应的第 一候选数
据块的校验和, 记录所述第一 候选数据块的最后一行 数据的索引信息;
根据所述索引 信息, 确定所述参考数据块的后半部分行数对应的第 二候选数据块的校
验和。
8.根据权利要求7所述的方法, 其特征在于, 所述将所述参考数据块拆分为多个候选数
据块, 包括:
根据所述参考数据块的行数, 将所述参考数据块拆分为两个候选数据块, 所述候选数
据块的行 数为所述 参考数据块的行 数的一半。
9.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述对所述目标数据块进行所述检验处
理, 包括:
根据所述目标数据块的个数创建至少一个线程, 所述线程用于对一个目标数据块进行
所述检验处 理;
并行执行所述至少一个线程。
10.一种一 致性校验装置, 其特 征在于, 包括:
检验处理模块, 用于获得目标数据块, 对所述目标数据块进行检验处理, 所述目标数据
块在上、 下游数据库均包括至少一行数据, 所述检验处理包括确定相应数据块在上、 下游数
据库的校验和以及行 数;
校验结果模块, 用于若确定所述目标数据块的检验结果为异常, 则确定所述目标数据
块的一致性校验结果为不一致, 其中, 所述检验结果为异常用于表征相 应的数据块在所述
上、 下游数据库的校验和以及行 数中的至少一种存在不同。
11.一种电子设备, 包括存储器、 处理器及存储在存储器上的计算机程序, 其特征在于,
所述处理器执行所述计算机程序以实现权利要求1 ‑9任一项所述 一致性校验方法的步骤。
12.一种计算机可读存储介质, 其上存储有计算机程序, 其特征在于, 所述计算机程序
被处理器执行时实现权利要求1 ‑9任一项所述的一 致性校验方法的步骤。权 利 要 求 书 2/2 页
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CN 115421965 A
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专利 一致性校验方法、装置、电子设备及存储介质
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