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ICS 31.140 L 21 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T12273.501—2012 代替GB/T15020—1994 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准 Quartz crystal units- A specification in the quality assessment system for electronic components- Part 5. 1:Blank detail specification-—Qualification approval (IEC 61178-3-1:1993,Quartz crystal units A specification in the IEC Quality Assessment System forElectronicComponents(IECQ)- Part 3:Sectional specification-Qualification approval- Section 1:Blank detail specification,MOD) 2012-11-05发布 2013-02-15实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T12273.501—2012 前言 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 GB/T12273《石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范》分为如下几个部分: 第1部分:总规范; ——第2部分:使用指南; -第3部分:标准外形和引出端连接; ——第4部分:分规范能力批准; —-第4.1部分:空白详细规范能力批准; ——第5部分:分规范鉴定批准; 一第5.1部分:空白详细规范鉴定批准。 本部分为GB/T12273的第5.1部分。 本部分代替GB/T15020—1994《电子设备用石英晶体元件空白详细规范 电阻焊石英晶体元 件评定水平E》,与GB/T15020-1994相比,除编辑性修改外主要变化如下: 一由于本标准的体系增加了分规范,空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容; 一删去了应该直接写在分规范中的规定内容; 标准编号按标准不同部分进行了调整。 本部分使用重新起草法修改采用IEC61178-3-1:1993《石英晶体元件IEC电子元器件质量评定 体系第3部分:分规范鉴定批准第一篇:空白详细规范》。 本部分与IEC61178-3-1:1993相比在结构上有调整,原因是:IEC61178-1被IEC60122-1:2002代 替,目前IEC61178的其他部分还继续有效。根据IEC60122的预计结构,本部分应为IEC60122的 第5.1部分,待修订时即进行编号调整。本部分采用了IEC60122的预计结构。这样的结构清晰并方 便使用,并且与IEC有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致。 本部分作了下列编辑性修改: -外形和尺寸图由第三视角改为第一视角; 一规范性引用文件中的IEC文件为目前的现行版本。 —用GB/T2828.1一2003代替IEC4101973计数检查抽样方案和程序,前者与后者在使用中 无技术性差异。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。 本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所。 本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: GB/T15020--1994。 I
GB-T 12273.501-2012 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准
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