ICS 17.180;31.030 N 05 中华人民共和国机械行业标准 JB/T9495.7—1999 光学晶体光学均匀性 测量方法 Measuring method for optical homogeneity ofoptical crystal 1999-08-06发布 2000-01-01实施 国家机械工业局 发布 JB/T 9495.7-1999 前言 本标准是对ZBN05001.7一86光学品体光学均匀性测量方法》的修订。本标准根据GB/T1.I 1993和GB/T1.22一1993的要求对原标准作了编辑、文字上的修改，主要技术内容没有变化。 本标准自实施之日起，代替ZBN05001.7—86。 本标准由仪表功能材料标准化技术委员会提出并归口。 本标准由北京玻璃研究所负责起草。 本标推主要起草人：杨学志。 本标准1986年6月首次发布。 中华人民共和国机械行业标准 光学晶体光学均匀性测量方法 JB/T 9495.7--1999 代善ZBNO5001.7—86 Apaadomoy [rogdo oy poqaxu Sun,rmstf? of optical arystal 1范围 本标准适用于直径不大于200mm 的光学晶体光学均匀性的测。测盘折射率微差的精度为:△n=± 1 × 10-°。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时所示版本均为 有效。所有标准都会效修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 JB/T9495.1—1999.光学晶体 3原理 光学均匀性系相同一块光学晶体内部折射率微差的大小。当一块内部折射率分布不均匀的光学晶 体故在干涉议（如台曼干涉仪)的逊盘光路中时，干涉仪原笔直规则的干涉条纹会产生夸曲或其它交形： 用这种光程改变而引起的干涉条纹弯曲与光学品体内部折射率分市的关系即可判断其光学均匀性的行 环。公式（1）给出了这种对应关系： 号m-(n-1)>h (1) h 式中：—光学体的射率； 一样品干涉条纹的变化量； 样品表面面形误差（这里指古暨玻璃表面平面度局部光函）： —样品厚度，rm。 4仪器 本标准采用台曼－格林干涉议（或效光多光束球面干涉仪）。其光路示意图如图1， 5样品 5.1测量光学均匀性的光学晶体样品应力双折射应小于二类。散射颗拉度为二类以上。 5.2样品加工成外形规整，两通光面平行度小于1，面形平整用303砂细磨。以刀刃尺检验，肉眼观察 无缝为准。 5.3测盘前样品需在恒温室内放置12h。 国家机械工业局1999-08-06批准2000-01~01实施 JB/T9495.71999 1-单色光源：2-准直物镜；3-分束镜：4-样品；5-贴暨玻鸡一对； 6-标准平面反射镜；7-补尝板：8-参考平面反射镜；9-望远镜；10-观测系统 图1台曼－格林干涉仪光路示意图 6测量 6.1条件 6.1.1测试时恒温室温度波动不得超过±0.5℃/h，室内相对湿度不大于75%。 6.1.2测量过程中要隔双，防度周期小于3Hz/s，隔短震辐小于0.2m。 6.1.3贴置用折射液与样品折射率差小于1×10-。 6.2步骤 6.2.1接通电源，预热15min，调整干涉仪使仪器处于正常工作状态。 6.2.2将样品放于载物台上，贴人贴置玻璃中，调整载物台及样品，使其垂直于光路并使光轴通过其中 心。 6.2.3调整标准镜和参考镜，使视场中出现五条左右清晰可见的于涉条纹。 6.2.4记录干涉条纹弯曲方向，量取间距及弯曲盘。 6.3结果 6.3.1干涉条纹弯曲量与条纹间距的比值△m的计算。 a）如图2所示，干涉条纹规整，等距，但有局部李曲，则： (2) 式中：Aα—各条纹弯曲盘中的最大值,mm; 条纹间距，mm。 b）图3所示于涉条纹既不规整，也不等距且有局部弯曲，则： Aa. (3) (a+a) 一最大间距，mm； 式中：α 最小间距，mm。 Am2 4 取Am和△mz中最大值计算样品的光学均匀性An值。 2 JB/T9495.7—1999 图2 3 6.3.2将△m值代人公式(1)算出An.按光学体标准JB/T9495.1—1999中5.2.6的规定分类： JIB/T 9495.7-1999 中华人民共和 机械行业标准 光学晶体光学均匀性测量方法 JB/T 9495.7—1999 * 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所出版 北京市广安门外大街申397号 邮玫编码：100055 电话 话：63490314.63261316 廊坊市光达胶印厂印 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所发行 * E-mai:[email protected] 网址：http://www.itei.com.cn/content.htm * 2001年10月第一版2001年10月第一次印别 *